本发明触及一种含硅离型膜的硅搬运快速检测的新办法，用于检测含硅离型膜的硅搬运率，该检测办法包括如下过程：选用X荧光光谱剖析仪测验处理前待检测含硅离型膜试样的硅涂布量A；裁取洁净的不含硅膜材备用；在待检测含硅离型膜试样的离型面上均匀彻底涂覆不含硅测验胶，待不含硅测验胶固化后，剥离不含硅膜材，得到处理后的含硅离型膜试样；将处理后的含硅离型膜试样再次选用X荧光光谱剖析仪测验其硅涂布量B；经过公式核算硅搬运率K＝〔(A‑B)/A〕×100％，剖析含硅离型膜是不是满意使用上的要求。本发明在模仿实践使用的基础上，经过增强胶黏剂与离型面的触摸作用，使测验时刻缩短至1小时以内，以离型膜处理前后的硅涂布量改变率断定离型膜的是否适用。

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