(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)创造专利请求(10)请求发布号 (43)请求发布日 (21)请求号 3.5(22)请求日 2019.04.15(71)请求人 深圳市普利司德高分子材料有限公司地址 518000 广东省深圳市坪山新区坑梓梓横路41号—B101(72)创造人 刘勇雄(51)Int.Cl.G01N 19/04 (2006.01) (54)创造称号一种离型膜保护膜的硅搬运测验办法(57)摘要本创造揭露一种离型膜保护膜的硅搬运测验办法，包含如下过程：过程S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两头别离记为a1、a2端，胶带B的两头记为b1、b...

  (19)中华人民共和国国家知识产权局(12)创造专利请求(10)请求发布号 (43)请求发布日 (21)请求号 3.5(22)请求日 2019.04.15(71)请求人 深圳市普利司德高分子材料有限公司地址 518000 广东省深圳市坪山新区坑梓梓横路41号B101(72)创造人 刘勇雄(51)Int.Cl.G01N 19/04 (2006.01) (54)创造称号一种离型膜保护膜的硅搬运测验办法(57)摘要本创造揭露一种离型膜保护膜的硅搬运测验办法，包含如下过程：过程S1：截取胶带以及待测的离型膜，截取胶带A、胶带B以及一段离型膜，两段胶带均为sellotape胶带，且胶带A的两头别离记为a1、a2端，胶带B的两头记为b1、b2；过程S2：将胶带A的a1端贴附于离型膜的外表，并运用手指抚平，然后将胶带A与离型膜别离；过程S3：使胶带A的a1端贴附于a2端的外表，一起使胶带B的b1端贴附于b2端的外表；过程S4：别离施加效果力使胶带A、胶带B别离，并将施加的效果力别离记为F 1 、F 2 ；过程S5：设置规模并核算搬运率P，其间搬运率为P＝F 1 /F 2 。本创造经过设置测验组以及对照组，而且将两组的测验数据来进行核算，然后快速核算硅搬运率，方便快捷，且测验成果准确率高。权利要求书1页 说明书3页 附图1页CN 109991161 A2019.07.09CN 109991161 A